请教一个问题，目前电解质成分化验中，用化学法分析和仪器分析出的数据哪一个更准确，如：化学法分析电解质成分中的氧化铝浓度为3.5%，而仪器法分析结果却是5.6%，如此大的误差，两个数据根本无法确认那一个接近实际，那位高手能给解释解释，非常感谢。
答：１＼化学分析是采用重量法，即对样品进行溶解－过滤－灼烧－秤量－计算．
２＼仪器分析采用全分析的方法．
（1）利用电导法测试电解质时，采用加入过量NaF，使其与电解质中的游离AlF3 完全成理想状态结合，结合成理想物质Na3AlF6。而在实际电解质中，显碱性的NaF不仅结合部分AlF3 ，还与电解质中的MgF2、CaF2 结合，生成结构较为复杂的NaMgF3、NaCaF3 。同时LiF、KF亦能结合部分AlF3 ，尽管这些杂质含量较小，但足以影响水溶液电导率。3#电解质中的MgF2、CaF2含量之和达13.65%，荧光-衍射法测试分子比和电导法分析测试分子比差别最大，而其他3种电解质杂质含量相对较小，由此可以得出MgF2、CaF2和NaF发生了化学反应，同时NaF亦会与上述物质结合成亚冰晶石，使整个电解质化学结构变得更加复杂。
（2）利用荧光仪分析时，是通过对电解质中的全元素分析，利用仪器测定出其中Na含量，Al含量，F含量，由于实际电解质中，Al元素来自AlF3和Al2O3，那么如何确定AlF3的含量呢？根据化学理论，利用仪器测定出的电解质的总F量减去CaF2、MgF2、NaF、LiF、KF中的F，余下的F量为AlF3中的F，通过以下公式换算：
AlF3=[F总－（CaF2×38/78.08 + NaF×19/41.99 + MgF2×38/62.31 + KF×19/58.1）]×83.98/57
上面理论公式，通过荧光仪分析出的总F量，根据仪器多次测量，准确度较高，但在实际中，电解质中和F结合的物质较多，其化学结构相当复杂，存在多种形式氟化物，有正态氟化物，也有亚态氟化物，使其内部结合的氟量存在偏差，而这种偏差会使AlF3的量存在偏差，3#电解质由于其它氟化物含量较高，因此造成两种分析结果差别最大。
（3）从仪器分析和化学分析的结果来看，荧光法分析所得出的分子比大于电导法分析的分子比，原因（1）：荧光-衍射分析时，其中的AlF3是通过氟换算所得出的，由于电解质中的氟化物晶型不同，存在亚型氟化物，结合了更多的氟，使计算所得的AlF3含量偏小，其结果分子比大。原因（2）：电导法分析时，加入过量NaF熔融化学反应后，加水溶解，溶液中导电物是NaF，由于NaF还参与与CaF2、MgF2反应，使NaF含量减少，其溶液导电性能减小，计算出AlF3含量偏大，最终结果分子比偏小，这也是我们上述结果存在差异的原因。
